专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体存储装置-CN202110695655.5在审
  • 金炫哲;洪载昊;金容锡;金一权;徐亨源;柳成原;李炅奂 - 三星电子株式会社
  • 2021-06-22 - 2022-05-13 - H01L27/11568
  • 提供了一种半导体存储装置。所述半导体存储装置包括:第一导线,在垂直于基底的顶表面的第一方向上堆叠;第二导线,在第一方向上延伸,并且与第一导线相交;以及存储单元,分别设置在第一导线与第二导线之间的多个相交点处。存储单元中的每个存储单元包括平行于基底的顶表面的半导体图案、围绕半导体图案的沟道区的第一栅电极和第二栅电极以及位于半导体图案与第一栅电极和第二栅电极中的每个之间的电荷存储图案,半导体图案包括具有第一导电类型的源区
  • 半导体存储器装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN201110049304.3有效
  • 吉井谦一郎;福富和弘;菅野伸一;浅野滋博 - 株式会社东芝
  • 2011-03-01 - 2011-09-21 - G11C29/44
  • 本发明涉及半导体存储装置。根据一个实施例,一种半导体存储装置包括具有其中写入数据的可写存储区域的多个半导体存储芯片。所述装置包括:确定单元,确定所述第一数据被写入的预定数目或更少的半导体存储芯片;写控制,将所述第一数据和冗余信息写入确定的半导体存储芯片中的所述可写存储区域中,所述冗余信息是从所述第二数据计算出的且被用于校正所述第二数据中的错误;以及存储单元,在其中存储彼此相关联的识别信息和区域指定信息。所述识别信息使所述第二数据和所述冗余信息相关联,并且所述区域指定信息指定所述半导体存储芯片中的包括在所述第二数据中的所述第一数据和所述冗余信息被写入的存储区域。
  • 半导体存储器装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN201110036760.4有效
  • 浅野滋博;吉井谦一郎;福富和弘;菅野伸一 - 株式会社东芝
  • 2011-02-12 - 2011-08-24 - G11C16/06
  • 本发明涉及半导体存储装置。根据一个实施例,一种半导体存储装置包括数据被请求写入其中的半导体存储芯片。所述数据具有一个或多个预定单位的第一数据的段。所述装置包括:写控制,其将所述第一数据和冗余信息写入不同的半导体存储芯片中,所述冗余信息是通过使用预定数目的所述第一数据的段而计算出的且被用于校正所述预定数目的所述第一数据的段中的错误;以及存储单元,其存储识别信息和区域指定信息以使所述存储识别信息和区域指定信息彼此相关联。所述识别信息使所述第一数据和所述冗余信息相关联,并且所述区域指定信息指定所述半导体存储芯片中的彼此相关联的所述第一数据和所述冗余信息被写入的多个存储区域。
  • 半导体存储器装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202110819494.6在审
  • 洪载昊;金炫哲;金容锡;金一权;徐亨源;柳成原;李炅奂 - 三星电子株式会社
  • 2021-07-20 - 2022-04-08 - H01L27/108
  • 根据本发明构思的半导体存储装置包括:半导体基底;共源极半导体层,掺杂有第一导电类型的杂质,位于半导体基底上;多个绝缘层和多个字线结构,交替堆叠在共源极半导体层上;存储单元介电层,穿透所述多个绝缘层和所述多个字线结构,并且覆盖在竖直方向上延伸的沟道孔的内壁;以及存储单元结构,填充沟道孔。存储单元结构包括沟道层和漏极层,在沟道层上设置有存储单元介电层,沟道层填充沟道孔的至少一部分,并且漏极层覆盖沟道层的上表面,掺杂有第二导电类型的杂质,并填充沟道孔的上部的一部分。
  • 半导体存储器装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202010288779.7在审
  • 权兑辉 - 爱思开海力士有限公司
  • 2020-04-14 - 2021-01-19 - G11C7/10
  • 一种半导体存储装置,该半导体存储装置包括:存储单元,其用于存储数据;页缓冲,其通过位线连接到存储单元,以将数据存储存储单元中或从存储单元读取数据;以及高速缓存锁存,其通过总线节点连接到页缓冲当执行页缓冲和高速缓存锁存之间的比特数据传输操作时,总线节点在开始比特数据传输操作之前放电。
  • 半导体存储器装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN201910726114.7在审
  • 中冢圭祐;荒井史隆 - 东芝存储器株式会社
  • 2019-08-07 - 2020-09-29 - H01L27/11519
  • 本发明涉及半导体存储装置。实施例提供了可以提高其操作可靠性的半导体存储装置。一种半导体存储装置包括在Y方向上彼此相邻地布置的第一块和第二块。第一块和第二块中的每一者包括在X方向上延伸的导电层、位于导电层之间的存储沟槽、跨其间插入有存储沟槽的两个导电层设置的存储柱、以及设置在存储柱和导电层之间的晶体管。
  • 半导体存储器装置

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